MST
MST 工程选型台

不要先猜型号,先把电源工况讲清楚

从应用、拓扑和失效边界出发,筛出 MAZO 候选产品族;再把需要验证的 Irms、Isat、损耗、温升、EMI 与认证条件带入样品和 RFQ。

筛选器不收集姓名、邮箱或客户项目名;最终选型与商务条件由人工复核。
01拓扑Buck / SEPIC / PoC / CMC
02电流与损耗Irms / Isat / DCR / core
03环境边界Heat / height / EMI / grade
04样品与 RFQEvidence / lead time / quote

功率电感选型,先回答四个问题

Irms 和 Isat 看哪个?

两个都要。Irms 约束铜损和温升;Isat 约束峰值电流下的电感衰减。额定定义与测试条件还要以该料号规格书为准。

DCR 越低越好吗?

低 DCR 可降低 I²R 铜损,但尺寸、成本、绕组与磁芯损耗仍需一起权衡,尤其在较高开关频率下。

为什么先看拓扑?

Buck、SEPIC、Class-D、PoC 和共模滤波的电流波形与关键曲线不同。只按电感值搜索,很容易得到错误候选。

筛选结果能直接定料吗?

不能。它把搜索空间缩小到候选产品族;最终仍需控制器设计公式、完整规格书、仿真/样品和板级验证。

六步选型法:从电路到可采购规格

  1. 01

    确认拓扑与工作点

    输入/输出电压范围、负载、电源相数、开关频率与连续/非连续模式。

  2. 02

    计算纹波与峰值

    以控制器厂商公式为准。Buck 的峰值电流通常由负载电流与半个电感纹波电流相加得到。

  3. 03

    分别校验 Irms 与 Isat

    Irms 对应热;Isat 对应峰值下的磁芯饱和与电感下降。不要把两个额定值互相替代。

  4. 04

    估算铜损与磁芯损耗

    铜损近似 I²R;高频时还要加入 AC 绕组损耗与磁芯损耗,不能只比较 DCR。

  5. 05

    加入机械与环境边界

    高度、占板、焊盘、屏蔽、邻近敏感器件、风道、环境温度、振动与认证路径。

  6. 06

    样品验证并形成 RFQ

    锁定规格书版本和可替代范围,验证效率、温升、纹波、瞬态与 EMI,再确认样品、价格、交期和来源证据。

01ΔIL ≈ (Vin − Vout) × Ton / LBuck 连续导通的理想化纹波初筛;以控制器资料为准。
02Ipeak ≈ Iout + ΔIL / 2用峰值电流校验饱和裕量和电感衰减。
03PDC ≈ Irms2 × DCR这里只是铜损起点;还要加入 AC 绕组与磁芯损耗。
可解释候选筛选

先用工况筛产品族,再用规格书定料号

通常只需先选应用;通用电源和 BOM 替代还要提供拓扑。更多工况会让交接摘要与验证清单更可执行。不要输入客户名称或保密项目数据。

最重要的设计约束(可多选)
补充工程参数,提高结果可执行性

结果不会假装是最终选型

MST 会给出候选产品族、匹配原因、代表 SKU 和必须复核的失效边界。

按产品设计继续深入

完整目录
技术依据

结论来源与边界都公开

公式与额定值解释来自芯片厂商和磁性器件厂商的公开工程资料;MAZO 候选映射来自 MST 已整理的产品资料。最终仍以对应料号当前规格书、样品和项目验证为准。