设计与工程服务
芯片设计、版图、DRC/LVS、封装和测试规划、SECS/GEM 集成以及原型工程。
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相关服务
全部服务 →封装、划片与测试
packaging-test-rfq把原型晶圆变成可用样品:划片、裸 die 处理、QFN/BGA/WLCSP、陶瓷或开腔封装、晶圆探针测试、封装后测试、测试座与负载板,以及样品运输。发送封装目标、die 尺寸和样品数量即可获取报价。
价格以报价为准芯片设计与版图
chip-design-layout-rfqMPW 前后的设计支持:模拟与混合信号模块、RF 与传感器前端、小型 RTL-to-GDS、版图整理、DRC/LVS 和流片前检查。先提供目标、模块类型、节点和时间;设计文件在签署 NDA 后再提供。
价格以报价为准样品运输与改版
prototype-logistics-respin首批芯片之后:样品运输与出口文件、晶圆与样品保管、改版(re-spin)规划、小批量工程批,以及进入下一轮 MPW 或试产。告诉我们项目阶段、目的地和时间即可获取报价。
价格以报价为准